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糖尿病痛性神经病变的发病与离子通道活性改变有什么关系?
文章来源:未知 时间:2011-12-16 16:03 点击:

糖尿病痛性神经病变是糖尿病常见的周围神经病变并发症之一,发病率约为13%~24%,严重影响患者生活质量。糖尿病痛性神经病变的发病与损伤神经的异位放电和离子通道活性改变有关系,但是很多的神经病变患者还不是很清楚,最近接到很多的患者咨询:糖尿病痛性神经病变的发病与离子通道活性改变有什么关系?下面针对这个问题,我们请权威的糖尿病专家为大家介绍一下。

糖尿病痛性神经病变的发病与离子通道活性改变有什么关系?专家介绍,外周神经损伤影响DRG和轴突细胞膜电压门控Na、ca、K等通道的表达及功能,引起糖尿病神经病变患者的自发的异位放电和痛性神经病变。糖尿病患者的高血糖,激活细胞多元醇代谢途径和损伤Na一K泵而影响Na电流。痛性神经病变患者中Na、ca离子通道表达上调。使用相应的离子通道阻滞剂如利多卡因、加巴贲丁可以减少糖尿病神经病变患者的异位放电起到镇痛作用,通道在脊髓背根神经节(DRG)中的下调也与神经元兴奋和异位自发放电有关。

痛性神经病变患者中神经节Na电流增加,感觉神经动作电位幅度减小,血红蛋白A1C水平降低,可以说明,Na在DPNP慢性疼痛中发挥重要的作用。经过专家的相关介绍您对“糖尿病痛性神经病变的发病与离子通道活性改变有什么关系?”这个问题您一定有所了解了吧。如果您还有其他的关于糖尿病神经病变的疑问,可以联系我们的在线专家进行相关的咨询。

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